測厚儀的應用

測厚儀(yi) （thickness gauge ）是用來測量材料及物體(ti) 厚度的儀(yi) 表。在工業(ye) 生產(chan) 中常用來連續或抽樣測量產(chan) 品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

這類儀(yi) 表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀(yi) 等。

應用

1、激光測厚儀(yi) 是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械製造中零件加工表麵的微觀幾何形狀來測量產(chan) 品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀(yi) 器。它可直接輸出數字信號與(yu) 工業(ye) 計算機相連接，並迅速處理數據並輸出偏差值到各種工業(ye) 設備。

2、X射線測厚儀(yi) 利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與(yu) 材料的厚度相關(guan) 的特性，滄州歐譜從(cong) 而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀(yi) 器。它以PLC和工業(ye) 計算機為(wei) 核心，采集計算數據並輸出目標偏差值給軋機厚度控製係統，達到要求的軋製厚度。主要應用行業(ye) ：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(ye) 的板帶加工。

3、紙張測厚儀(yi) ：適用於(yu) 4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

4、薄膜測厚儀(yi) ：用於(yu) 測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量範圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英製轉換、自動斷電等特點。

5、塗層測厚儀(yi) ：用於(yu) 測量鐵及非鐵金屬基體(ti) 上塗層的厚度.

6、超聲波測厚儀(yi) ：超聲波測厚儀(yi) 是根據超聲波脈衝(chong) 反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈衝(chong) 通過被測物體(ti) 到達材料分界麵時，脈衝(chong) 被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳(chuan) 播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nei) 部傳(chuan) 播的各種材料均可采用此原理測量。