裏氏硬度計是一種測試器材,其原理是隨著單片技術的發展,1978年,瑞士人Leeb博士提出了一種全新的測硬方法,它的基本原理是具有一定質量的衝(chong) 擊體(ti) 在一定的試驗力作用下衝(chong) 擊試樣表麵,測量衝(chong) 擊體(ti) 距試樣表麵1mm處的衝(chong) 擊速度與(yu) 回跳速度,利用電磁原理,感應與(yu) 速度成正比的電壓。
在現場工作中,經常遇到曲麵試件,各種曲麵對硬度測試結果影響不同,在正確操作的情況下,衝(chong) 擊落在試件表麵瞬間的位置與(yu) 平麵試件相同,故通用支撐環即可。但當曲率小到一定尺寸時,由於(yu) 平麵條件的變形的彈性狀態相差顯著會(hui) 使衝(chong) 擊體(ti) 回彈速度偏低,從(cong) 而使裏氏硬度示值偏低。因此對試樣,建議測量時使用小支撐環。對於(yu) 曲率半徑更小的試樣,建議選用異型支撐環。
一、對被測試件的一般要求試件表麵應潔淨,無灰塵,無油汙和無氧化皮。
二、對試件表麵溫度的要求試件表麵的溫度不能過熱,要求溫度小於(yu) 120℃。測試*溫度為(wei) 4℃-38℃。
三、對試件表麵粗糙度的要求試件表麵粗糙度應滿足下表的要求,試件表麵的粗糙度不但影響測試精度,而且影響衝(chong) 擊球頭的使用壽命。
衝(chong) 擊裝置類型 | 試件表麵粗糙度Ra | 相當於(yu) 原國標 |
D DC D+15 E DL | 2μm | 6 |
G | 7μm | 4 |
C | 0.4μm | 8 |
四、對試件重量的要求
1、對足夠重的試件不需要支撐,直接進行測試。
2、對重量不太重的試件,有懸伸部分的試件以及薄壁試件,在測試時應使用物體(ti) 支撐,以避免衝(chong) 擊力引起試件的扭曲、變形和移動。
3、對重量較小的試件,應使其與(yu) 重量大與(yu) 5kg的支撐體(ti) 牢牢耦合,要求試件與(yu) 支撐體(ti) 表麵必須平整、光滑,耦合劑(凡士林,機油等)用量不宜過多,測試方向必須垂直於(yu) 耦合平麵。衝(chong) 擊裝置與(yu) 試件重量的關(guan) 係見下表:
衝(chong) 擊裝置類型 | 不需固定支撐 | 需固定支撐 | 需耦合 |
D DC D+15 E DL | 5kg | 2kg | 0.1kg |
G | 15kg | 5kg | 0.5kg |
C | 1.5kg | 0.5kg | 0.02kg |
五、對試件表麵硬化層厚度的要求對於(yu) 表麵覆有硬化層的試件,為(wei) 保證測試精度,要求對應於(yu) 不同的衝(chong) 擊裝置試件表麵硬化層厚度應符合下表規定:
衝(chong) 擊裝置類型 | 試件表麵硬化層小厚度 |
D DC D+15 E DL | 0.8mm |
G | ------ |
C | 0.2mm |
六、對板材、管壁型試件厚度的要求對於(yu) 板材、管材和其它薄片型試件的測試,為(wei) 保證測試精度,要求對應於(yu) 不同的衝(chong) 擊裝置試件厚度應符合下表
衝(chong) 擊裝置類型 | 被測試件小厚度 |
D DC D+15 E DL | 3mm |
G | 10mm |
C | 1mm |
七、對曲口試件保證測試精度的要求使用D型衝(chong) 擊裝置,要求試件曲麵半徑大於(yu) 30mm;使用G型衝(chong) 擊裝置,要求試件曲麵半徑大於(yu) 50mm。對不滿足上述要求的球麵、柱麵和凹麵等曲口試件,為(wei) 保證測試精度,應采用異型支撐環(選購件)。
異型支撐環有如下規格:
1、外圓球麵:K10-15mm,K14.5-30mm。
2、內(nei) 圓球麵:HK11-13mm,HK12.5-17mm,HK16.5-30mm。
3、外圓柱麵:Z10-15mm,Z14.5-30mm,Z25-50mm。
4、內(nei) 圓柱麵:HZ11-13mm,HZ12.5-17mm,HZ16.5-30mm。
5、特殊外形:UN
八、對試件表麵無磁性的要求試件表麵不能帶有磁性,帶有磁性的試件將影響測試精度。要求試件剩磁應小於(yu) 4G。
九、對試件無振動的要求測試時,試件所處的四周環境不應有振動,否則會(hui) 影響測試結果。
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